{"id":576826,"date":"2024-11-05T19:58:04","date_gmt":"2024-11-05T19:58:04","guid":{"rendered":"https:\/\/pdfstandards.shop\/product\/uncategorized\/iec-63287-12021\/"},"modified":"2024-11-05T19:58:04","modified_gmt":"2024-11-05T19:58:04","slug":"iec-63287-12021","status":"publish","type":"product","link":"https:\/\/pdfstandards.shop\/product\/publishers\/iec\/iec-63287-12021\/","title":{"rendered":"IEC 63287-1:2021"},"content":{"rendered":"

L\u2019IEC 63287-1:2021 fournit des lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilit\u00e9 des produits de CI \u00e0 semiconducteurs. Le pr\u00e9sent document n\u2019est pas destin\u00e9 aux applications militaires et spatiales.
NOTE 1 Le fabricant peut utiliser des tailles d\u2019\u00e9chantillons flexibles afin de r\u00e9duire les co\u00fbts tout en maintenant une fiabilit\u00e9 raisonnable par l\u2019adaptation des pr\u00e9sentes lignes directrices fond\u00e9es sur l\u2019EDR-4708. S\u2019ils sont sp\u00e9cifi\u00e9s, les documents AEC Q100, JESD47 ou tout autre document pertinent sp\u00e9cifi\u00e9 peuvent \u00e9galement \u00eatre applicables.
NOTE 2 La m\u00e9thode de la loi de Weibull utilis\u00e9e dans le pr\u00e9sent document n\u2019est qu\u2019une m\u00e9thode parmi d\u2019autres permettant de calculer la taille d\u2019\u00e9chantillon et les conditions d\u2019essai appropri\u00e9es pour un projet de fiabilit\u00e9 donn\u00e9.
Cette premi\u00e8re \u00e9dition de l\u2019IEC 63287-1 annule et remplace la premi\u00e8re \u00e9dition de l\u2019IEC 60749-43 parue en 2017. Cette \u00e9dition constitue une r\u00e9vision technique.
Cette \u00e9dition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport \u00e0 l'\u00e9dition pr\u00e9c\u00e9dente:<\/p>\n

    \n
  1. le document a \u00e9t\u00e9 renomm\u00e9 et renum\u00e9rot\u00e9 afin de le diff\u00e9rencier de l\u2019IEC 60749 (toutes les parties);<\/li>\n
  2. une nouvelle section portant sur le concept de famille a \u00e9t\u00e9 ajout\u00e9e avec une renum\u00e9rotation appropri\u00e9e du texte existant.<\/li>\n<\/ol>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

    Dispositifs \u00e0 semiconducteurs – Lignes directrices g\u00e9n\u00e9riques concernant la qualification des semiconducteurs – Partie 1: Lignes directrices concernant la qualification de la fiabilit\u00e9 des circuits int\u00e9gr\u00e9s<\/b><\/p>\n\n\n\n\n
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